Chromatic Focus Probe CFP

ยี่ห้อ : Werth

✅ คุณสมบัติเด่น

สแกนพื้นผิวได้อย่างแม่นยำ
หลักการวัดแบบโครมาติก (Chromatic) ช่วยลดความคลาดเคลื่อนในการวัด และไม่ขึ้นอยู่กับคุณสมบัติของพื้นผิว
เก็บข้อมูลจุดวัดจำนวนมากได้ในเวลาอันสั้น
รองรับการใช้งานหลากหลาย แม้ในกรณีที่ต้องการความแม่นยำสูงและเวลาวัดที่จำกัด
สามารถวัดขนาดที่มีค่าความคลาดเคร่ง (Tight tolerance), รูปทรงแม่พิมพ์ และความหยาบผิวได้

✅ คุณสมบัติเด่นเพิ่มเติม

วัดชิ้นงานที่บอบบางหรือยืดหยุ่นได้
ช่วงการวัดของเซนเซอร์กว้าง ช่วยให้สแกนได้รวดเร็วโดยไม่ต้องขยับแกนเครื่องไปยังพื้นผิวชิ้นงาน
รองรับการวัดพื้นผิวที่สะท้อนแสงหรือโปร่งใส
สามารถวัดความหนาของชั้นวัสดุโปร่งใสได้ (เป็นอุปกรณ์เสริม)

ข้อมูลทางเทคนิค

หลักการเซนเซอร์:
ออปติกแบบแกนตรง (Optical-axial) โดยใช้หลักการความคลาดสี (Chromatic aberration)

ช่วงการวัด:
ตั้งแต่ 0.3 มม. ถึง 3 มม.

ความแม่นยำ:
ค่าความคลาดเคลื่อนในการตรวจวัดสูงสุด 0.25 ไมโครเมตร (µm)

หลักการทำงาน:
แสงจากแหล่งกำเนิดแสงแบบบรอดแบนด์จะถูกส่งจากกล่องประมวลผลไปยังชิ้นงานผ่านชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์, สายไฟเบอร์ออปติก และชุดเลนส์ภาพ
ความเข้มของแสงสะท้อนจะสูงที่สุดที่สีซึ่งตรงกับระยะห่างจากชิ้นงาน โดยข้อมูลนี้จะถูกวิเคราะห์ด้วยสเปกโตรมิเตอร์