• Home
  • About Us
  • Products
    • » Werth Messtechnik GmbH
      • » Product Highlight News -ข่าวผลิตภัณฑ์เด่น
        • › An entry-level metrology system
        • › Werth TGV measurement concept
        • › Raster Scanning HD
        • › Economical system with CT
        • › Flexible volume cut for inspection and measurement
        • › Increased efficiency with WinWerth® Scout
        • › Precision Tool Pro
      • » CMMs
        • › EasyScope IP Manual
        • › EasyScope IP Automatic
        • › EasyScope -Multisensors
        • › ScopeCheck® S
        • › ScopeCheck® FB
        • › ScopeCheck® MB
        • › VideoCheck® S MZ
        • › VideoCheck® FB
        • › VideoCheck HA
        • › VideoCheck® UA
        • › Quick Inspect / MT
        • › FlatScope® 400/650
      • » CT CMM
        • » TomoScope -XS
        • › TomoScope XS Plus
        • › TomoScope XS Plus 200
        • › TomoScope XS Plus 230
        • › TomoScope S FOV /S/S Plus
        • › TomoScope L
        • › TomoScope XL
        • › TomoScope XL NC
        • › TomoCheck S HA
        • › TomoScope S & L FQ
      • » Tools & Shafts
        • › ScopeCheck®V
        • › VideoCheck V HA
        • › NanoMatic
        • › ShaftScope CNC
      • » Sensors
        • › Image Processing IP
        • › Auto Focus
        • › Laser Probe WLP
        • › Chromatic Focus Probe CFP
        • › Chromatic Focus Zoom CFZ
        • › 2D Fiber Probe WFP/S
        • › 3D Fiber Probe WFP
        • › TP200
        • › SP25M
        • › SP80
        • › 3D Patch
        • › Chromatic Focus Line CFL
        • › Nano Focus Probe NFP
        • › Contour Probe WCP
        • › Interferometer Probe WIP
      • » Accessories
        • › Werth Right Angle Optics
        • › Rotary Tilt Axis
      • » Newsletter
        • › 2025_Multisensor
        • › 2024 Newsletter Multisensor
        • › 2023 Newsletter Multisensor
        • › 2019 newsletter
        • › 2018 Newsletter
        • › 2017 Newsletter
        • › 2016 Newsletter
        • › 2015 Newsletter May
        • › 2015 Newsletter Jan
        • › 2014 Newsletter
        • › Practical Tip -3
        • › Practical Tip -2
        • › Practical Tip -1
        • › Practical Tip
      • » Software
        • › WinWerth
        • › Werth OnTheFly
        • › Werth HDR Scan
        • › Werth 3D Patch
    • » Hexagon Manufacturing Intelligence
      • › Global S
      • › SF 4.5.4
      • › SF 7.10.7
      • › SF TIGO
      • › Explorer Performance
      • › Captura 322
      • › PC-DMIS
    • » TechnoOptis
      • › SR-5100
      • › SR-5A
      • › UA series
      • › BM-series
    • » Motic
      • » Industrial Microscope
        • » Stero Zoom Microscope
          • › SMZ-171 TP
          • › SMZ 171 TLED (ESD)
          • › SMZ-171 BLED
          • › SMZ-160
          • › SM7 (CMO series)
          • › SM10 (CMO series)
        • » Metallurgical Microscope
          • › BA310MET
          • › PA53MET
          • › PA80MET
          • › PA120MET
        • » Measuring Microscope (MPA)
          • › MPA2015
          • › MPA3020
          • › MPA3030
          • › MPA4030
      • » Digital Zoom Microscope (EasyZoom)
        • › EasyZoom 5
        • › EasyZoom 5s
        • › EasyZoom 2
      • » Moticam
        • » USB S series
          • › Moticam S20
          • › Moticam S1
          • › Moticam S3
          • › Moticam S6
          • › Moticam S12
          • › Moticam Pro S5 Lite
          • › Moticam Pro S5 Plus
          • › Moticam E50
        • » Full HD Camera
          • › Moticam 4000 BMH
          • › Moticam 4000
        • » Wi-Fi
          • › Moticam X5 Plus
          • › Moticam 1080X
        • » Tablet Solutions
          • › BTi-8 Plus
          • › BTi-10 Plus
      • » Digital Stereo Microscope
        • › SMZ-171 D
    • » Photonic Optics
      • › Cold Light Fiber Optic
      • › Fluorescent Ring Light
      • › LED Hi-Power Spot
      • › LED Illuminator
      • › LED Light Source
    • » Seven Ocean
      • › Smart Vision
      • › Smart Manual
      • › Eagle S & M
      • › Accura III
      • › Accura S
      • › Accura L
    • » Renishaw
  • Jobs
    • » ดูรายละเอียดงาน
  • Contact Us

Products

  • » Werth Messtechnik GmbH
    • » Product Highlight News -ข่าวผลิตภัณฑ์เด่น
      • -› An entry-level metrology system
      • -› Werth TGV measurement concept
      • -› Raster Scanning HD
      • -› Economical system with CT
      • -› Flexible volume cut for inspection and measurement
      • -› Increased efficiency with WinWerth® Scout
      • -› Precision Tool Pro
    • » CMMs
      • -› EasyScope IP Manual
      • -› EasyScope IP Automatic
      • -› EasyScope -Multisensors
      • -› ScopeCheck® S
      • -› ScopeCheck® FB
      • -› ScopeCheck® MB
      • -› VideoCheck® S MZ
      • -› VideoCheck® FB
      • -› VideoCheck HA
      • -› VideoCheck® UA
      • -› Quick Inspect / MT
      • -› FlatScope® 400/650
    • » CT CMM
      • » TomoScope -XS
      • -› TomoScope XS Plus
      • -› TomoScope XS Plus 200
      • -› TomoScope XS Plus 230
      • -› TomoScope S FOV /S/S Plus
      • -› TomoScope L
      • -› TomoScope XL
      • -› TomoScope XL NC
      • -› TomoCheck S HA
      • -› TomoScope S & L FQ
    • » Tools & Shafts
      • -› ScopeCheck®V
      • -› VideoCheck V HA
      • -› NanoMatic
      • -› ShaftScope CNC
    • » Sensors
      • -› Image Processing IP
      • -› Auto Focus
      • -› Laser Probe WLP
      • -› Chromatic Focus Probe CFP
      • -› Chromatic Focus Zoom CFZ
      • -› 2D Fiber Probe WFP/S
      • -› 3D Fiber Probe WFP
      • -› TP200
      • -› SP25M
      • -› SP80
      • -› 3D Patch
      • -› Chromatic Focus Line CFL
      • -› Nano Focus Probe NFP
      • -› Contour Probe WCP
      • -› Interferometer Probe WIP
    • » Accessories
      • -› Werth Right Angle Optics
      • -› Rotary Tilt Axis
    • » Newsletter
      • -› 2025_Multisensor
      • -› 2024 Newsletter Multisensor
      • -› 2023 Newsletter Multisensor
      • -› 2019 newsletter
      • -› 2018 Newsletter
      • -› 2017 Newsletter
      • -› 2016 Newsletter
      • -› 2015 Newsletter May
      • -› 2015 Newsletter Jan
      • -› 2014 Newsletter
      • -› Practical Tip -3
      • -› Practical Tip -2
      • -› Practical Tip -1
      • -› Practical Tip
    • » Software
      • -› WinWerth
      • -› Werth OnTheFly
      • -› Werth HDR Scan
      • -› Werth 3D Patch
  • » Hexagon Manufacturing Intelligence
    • -› Global S
    • -› SF 4.5.4
    • -› SF 7.10.7
    • -› SF TIGO
    • -› Explorer Performance
    • -› Captura 322
    • -› PC-DMIS
  • » TechnoOptis
    • -› SR-5100
    • -› SR-5A
    • -› UA series
    • -› BM-series
  • » Motic
    • » Industrial Microscope
      • » Stero Zoom Microscope
        • -› SMZ-171 TP
        • -› SMZ 171 TLED (ESD)
        • -› SMZ-171 BLED
        • -› SMZ-160
        • -› SM7 (CMO series)
        • -› SM10 (CMO series)
      • » Metallurgical Microscope
        • -› BA310MET
        • -› PA53MET
        • -› PA80MET
        • -› PA120MET
      • » Measuring Microscope (MPA)
        • -› MPA2015
        • -› MPA3020
        • -› MPA3030
        • -› MPA4030
    • » Digital Zoom Microscope (EasyZoom)
      • -› EasyZoom 5
      • -› EasyZoom 5s
      • -› EasyZoom 2
    • » Moticam
      • » USB S series
        • -› Moticam S20
        • -› Moticam S1
        • -› Moticam S3
        • -› Moticam S6
        • -› Moticam S12
        • -› Moticam Pro S5 Lite
        • -› Moticam Pro S5 Plus
        • -› Moticam E50
      • » Full HD Camera
        • -› Moticam 4000 BMH
        • -› Moticam 4000
      • » Wi-Fi
        • -› Moticam X5 Plus
        • -› Moticam 1080X
      • » Tablet Solutions
        • -› BTi-8 Plus
        • -› BTi-10 Plus
    • » Digital Stereo Microscope
      • -› SMZ-171 D
  • » Photonic Optics
    • -› Cold Light Fiber Optic
    • -› Fluorescent Ring Light
    • -› LED Hi-Power Spot
    • -› LED Illuminator
    • -› LED Light Source
  • » Seven Ocean
    • -› Smart Vision
    • -› Smart Manual
    • -› Eagle S & M
    • -› Accura III
    • -› Accura S
    • -› Accura L
  • » Renishaw
Products » Werth Messtechnik GmbH » Software » WinWerth

WinWerth

WinWerth

ยี่ห้อ : Werth



⚡ WinWerth®: ซอฟต์แวร์วัดพิกัดแบบมัลติเซนเซอร์

WinWerth® รองรับการควบคุมเครื่องวัดพิกัดที่ใช้เซนเซอร์หลากหลายประเภท รวมถึงการประมวลผลข้อมูลแบบปริมาตร (Volume Data) และกลุ่มจุดวัด (Point Cloud) ได้ในระบบเดียวอย่างมีเอกลักษณ์

  • รองรับเซนเซอร์ออปติคัล, หัววัดแบบสัมผัส (Single-point / Scanning), Werth Fiber Probe®, ระบบเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ และการใช้งานแบบมัลติเซนเซอร์
  • ประเมินข้อมูลการวัดได้ทั้งจุดวัด, ภาพ 2D และข้อมูลปริมาตร พร้อมวิเคราะห์ค่าความคลาดเคลื่อนระหว่างชิ้นงาน
  • อัลกอริธึมการประเมินที่ผ่านการรับรองจาก PTB ช่วยให้ผลการวัดถูกต้องตามมาตรฐาน
  • แสดงข้อมูลครบถ้วนในกราฟิก เช่น โมเดล CAD พร้อมข้อมูล PMI, ปริมาตร voxel, กลุ่มจุดวัด, แผนภาพเบี่ยงเบนสีจากการเปรียบเทียบ 3D, ภาพวิดีโอ, องค์ประกอบการวัดและคำนวณ พร้อมค่ากำหนดและค่าจริง รวมถึงค่าความคลาดเคลื่อน

 

⚙️ โครงสร้างซอฟต์แวร์แบบโมดูล

  • รองรับเครื่องวัดตั้งแต่โปรเจกเตอร์วัดขนาด ไปจนถึงเครื่องวัดพิกัดแบบหลายแกนที่ใช้เซนเซอร์หลายชนิด รวมถึงระบบเอกซเรย์
  • มีระดับการเข้าถึงหลายระดับ เพื่อให้เหมาะกับผู้ใช้งานที่มีความเชี่ยวชาญแตกต่างกัน ตั้งแต่ผู้ปฏิบัติงานทั่วไปไปจนถึงผู้เชี่ยวชาญด้านการวัด
  • เชื่อมต่อกับระบบ CAD สำหรับนำเข้าข้อมูลเป้าหมาย และระบบ CAQ สำหรับการวิเคราะห์ทางสถิติ

 

⚡ ฟังก์ชันเด่น

  • อินเทอร์เฟซกราฟิกใช้งานง่าย
  • โปรแกรมลำดับการวัดที่ซับซ้อนได้
  • วัดจากข้อมูล CAD โดยตรง
  • ประมวลผลภาพด้วยเทคโนโลยี Werth
  • รองรับการวัดจากภาพเอกซเรย์ CT
  • เพิ่มระดับอัตโนมัติในการทำงาน
  • วิเคราะห์ความคลาดเคลื่อนระหว่างชิ้นงาน
  • ประเมินกลุ่มจุดวัดและข้อมูลปริมาตร

 

⚡ การวัดแบบกราฟิกที่เรียบง่าย

  • เหมาะสำหรับการวัดขนาดพื้นฐานของชิ้นงานผลิตที่ต้องการความรวดเร็ว
  • ผู้ใช้งานทั่วไปสามารถใช้งานได้โดยไม่ต้องมีความเชี่ยวชาญเฉพาะทาง
  • ซอฟต์แวร์จะช่วยเลือกพื้นที่วัด องค์ประกอบเรขาคณิต (เช่น เส้นตรง วงกลม จุดมุม) และคำนวณค่าทางเรขาคณิต เช่น ระยะ มุม และเส้นผ่านศูนย์กลางโดยอัตโนมัติ

⚡ การแนะนำผู้ใช้งานผ่านบทเรียน WinWerth®

WinWerth® มีระบบบทเรียนแบบขั้นตอน (Tutorials) ที่ช่วยแนะนำผู้ใช้งานทีละขั้นตอน เช่น ในการสแกนด้วยเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ (Tomography)
บทสนทนาแบบมีข้อความและภาพประกอบจะอธิบายแต่ละขั้นตอน พร้อมไฮไลต์ตำแหน่งที่ต้องใช้งานบนหน้าจอ
ช่วยให้สามารถดำเนินการโปรแกรมที่ซับซ้อนได้อย่างรวดเร็ว แม้ผู้ใช้งานจะไม่มีประสบการณ์มาก่อน

 



 

⚡ การกระจายจุดวัดอัตโนมัติ

สำหรับงานวัดที่ซับซ้อน ผู้ใช้งานสามารถปรับกระบวนการอัตโนมัติบางส่วนได้เอง เช่น การตั้งค่าหน้าต่างวัดหรือการเลือกฟีเจอร์
ระบบจะช่วยกระจายจุดวัดหรือเส้นสแกนอัตโนมัติบนองค์ประกอบเรขาคณิต เช่น วงกลม, เส้นผิวทรงกระบอก, รูปดาว หรือแบบเกลียว โดยคำนึงถึงเส้นทางการเคลื่อนที่ของหัววัด

ลำดับการวัดทั้งหมด รวมถึงการประเมินผล สามารถสร้างได้ล่วงหน้าแบบออฟไลน์จากโมเดล CAD หรือแบบออนไลน์โดยใช้จำนวนจุดวัดขั้นต่ำ
ผู้ใช้งานสามารถปรับจุดวัดหรือเส้นสแกนภายหลังได้ด้วยเมาส์หรือผ่านหน้าต่างคำสั่ง
ลำดับการวัดที่กำหนดไว้สามารถบันทึกและเรียกใช้งานเป็นโปรแกรมอัตโนมัติในกรณีที่ต้องวัดซ้ำ

Measurement points are distributed automatically

 


 

 

⚡ การโปรแกรมลำดับการวัดที่ซับซ้อน

WinWerth® รองรับการโปรแกรมลำดับการวัดที่ซับซ้อนผ่านเครื่องมือเฉพาะในซอฟต์แวร์ โดยมีอินเทอร์เฟซที่ใช้งานง่ายและแสดงแผนการทดสอบอย่างชัดเจน

  • ผู้ใช้งานสามารถเลือกเซนเซอร์ได้โดยตรงจากหน้าจอของเครื่องวัดพิกัดแบบมัลติเซนเซอร์
  • โครงสร้างโปรแกรมการวัดจะแสดงในรูปแบบ Feature Tree ซึ่งเป็นแผนการทดสอบในลักษณะโครงสร้างต้นไม้
  • Feature Tree แสดงความสัมพันธ์ระหว่างคุณลักษณะทางเรขาคณิต องค์ประกอบของรูปทรง และพารามิเตอร์ทางเทคนิค เช่น:
  • ประเภทเซนเซอร์
  • การตั้งค่าแสง
  • ความเร็วในการสแกน
  • อัลกอริธึมการประเมินผล
  • การจัดแนวที่ถูกต้อง

 

⚡ การแสดงผลแบบคู่ขนาน

  • ข้อมูลจาก Feature Tree จะถูกแสดงควบคู่กับ:
    • ภาพกราฟิกของลำดับการวัด
    • รายงานการวัดเชิงตัวเลข
  • การเชื่อมโยงระหว่างองค์ประกอบเรขาคณิต (เช่น จุดตัด เส้นตัด) หรือคุณลักษณะเรขาคณิต (เช่น ระยะ ความตั้งฉาก) สามารถโปรแกรมได้ทั้งจาก Feature Tree หรือจากมุมมองกราฟิก

 

 

 


⚡ การจำลองกระบวนการเอกซเรย์ด้วย TomoSim

TomoSim เป็นซอฟต์แวร์วัดพิกัดตัวแรกที่สามารถจำลองกระบวนการเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ (CT) แบบออฟไลน์ โดยใช้ข้อมูล CAD หรือ Point Cloud ในรูปแบบ STL
การจำลองที่สมจริงโดยอิงจากพารามิเตอร์ CT ที่ตั้งไว้ ช่วยให้สามารถคำนวณข้อมูลปริมาตรพร้อมแสดงอาร์ติแฟกต์ที่สำคัญทั้งหมด

  • โปรแกรมตรวจสอบตัวอย่างแรกสามารถสร้างและสอนล่วงหน้าในสถานีออฟไลน์ ขนานไปกับการผลิตชิ้นงานจริงและการวัดอื่น ๆ บนเครื่องโดยใช้ WinWerth®
  • ช่วยลดเวลาในการตั้งค่าและลด Downtime โดยเฉพาะในเครื่อง TomoScope® ที่ทำงานหลายกะ

 

⚙️ ฟังก์ชันการจำลองและการวิเคราะห์

  • สามารถสร้างโปรแกรมวัดและตรวจสอบความเป็นไปได้ให้เสร็จก่อนชิ้นงานแรกออกจากการผลิต
  • ทดสอบและปรับแต่งพารามิเตอร์ CT ได้ล่วงหน้า
  • ตรวจจับอาร์ติแฟกต์สำคัญ เช่น การแข็งของลำแสง (Beam Hardening) หรือจำนวนรอบหมุนที่ไม่เพียงพอ พร้อมเลือกวิธีแก้ไขที่เหมาะสม
  • รองรับการโปรแกรมออฟไลน์สำหรับการวิเคราะห์ข้อมูลปริมาตร เช่น:
  • การตรวจสอบครีบ (Burr Detection)
  • การวิเคราะห์ช่องว่าง (Void Analysis)
  • การวิเคราะห์ความพรุน (Porosity Analysis)
  • การอ่านข้อความ (Text Recognition)
  • การวิเคราะห์พื้นผิวแบบ SurfaceScan ทั้งแบบกำหนดล่วงหน้าและแบบแบ่งช่วงปริมาตร

 

 

 


⚡ การทดสอบและแก้ไขโปรแกรมที่ง่ายและยืดหยุ่น

WinWerth® รองรับโหมดการทดสอบและแก้ไขโปรแกรมผ่าน Feature Tree บนอินเทอร์เฟซหลัก โดยสามารถดำเนินการทีละขั้นตอนและเพิ่มการเปลี่ยนแปลงได้อย่างสะดวก

  • มี Text Editor แบบคู่ขนาน สำหรับผู้ใช้งานที่มีประสบการณ์ในการแก้ไขหรือเขียนโค้ด DMIS โดยตรงระหว่างการสอนโปรแกรม
  • ส่วนของโปรแกรมสามารถกำหนดให้เป็น Loop สำหรับการประมวลผลซ้ำ หรือแยกออกเป็น Subroutine ได้ง่าย ๆ ด้วยการเลือกผ่านเมาส์
  • มิติการวัดที่สำคัญสามารถกำหนดได้ผ่านการวัดแบบเน้นฟีเจอร์ (Feature-Oriented Measurement)

 

 


 

⚡ การวัดด้วยข้อมูล CAD

การใช้งานง่ายด้วย CAD-Online®

โมดูล CAD ที่รวมอยู่ใน WinWerth® ช่วยให้สามารถใช้ข้อมูล CAD ในการกำหนดตำแหน่งของเครื่องวัดพิกัดได้โดยตรง
Werth ถือเป็นหนึ่งในผู้ผลิตรายแรกที่นำเทคโนโลยีนี้มาใช้ตั้งแต่ช่วงกลางทศวรรษ 1990 ภายใต้ชื่อ CAD-Online®

  • ลำดับการวัดทั้งหมดสามารถควบคุมได้โดยการเลือกฟีเจอร์เรขาคณิตบนโมเดล CAD
  • เครื่องวัดจะเคลื่อนไปยังตำแหน่งวัดที่สร้างขึ้นโดยอัตโนมัติ และดำเนินการวัดด้วยเซนเซอร์ที่เลือกไว้

 

⚙️ การทำงานอัตโนมัติและความแม่นยำสูง

  • สามารถเก็บจุดวัดเป็น Point Cloud หรือวัดพื้นที่ขนาดใหญ่ด้วยเซนเซอร์ Werth 3D Patch หรือ Confocal โดยจัดตำแหน่งการวัดย่อยให้ตรงกันแบบความละเอียดสูง
  • พารามิเตอร์เทคโนโลยี เช่น การตั้งค่าแสงของเซนเซอร์ประมวลผลภาพ สามารถปรับได้โดยตรงบนเครื่อง โดยคำนึงถึงการทำงานร่วมกันระหว่างแหล่งกำเนิดแสง ชิ้นงาน และระบบสร้างภาพ
  • ระบบจะปรับลำดับการเคลื่อนที่โดยอัตโนมัติเพื่อหลีกเลี่ยงการชนกัน โดยอิงจากรูปทรงของชิ้นงาน เครื่องจักร และเซนเซอร์

 

 


 

⏱️ การโปรแกรมแบบประหยัดเวลาด้วย CAD-Offline®

WinWerth® รองรับการทำงานบนสถานี CAD-Offline® โดยไม่ต้องใช้เครื่องวัดพิกัดจริง
Werth เป็นผู้บุกเบิกในด้านนี้ตั้งแต่ช่วงต้นทศวรรษ 1990 โดยให้โซลูชันแก่ลูกค้าในการสร้างและทดสอบโปรแกรมวัดจากโมเดล CAD โดยตรง

  • เหมาะอย่างยิ่งสำหรับเซนเซอร์แบบสัมผัส ซึ่งช่วยลดเวลาในการสร้างโปรแกรมได้หลายชั่วโมง โดยไม่ต้องกำหนดตำแหน่งจุดวัดหรือระยะหลบหลีก
  • การจำลองการทำงานของเครื่องจะดำเนินการบนโมเดล CAD 3D พร้อมวิเคราะห์การชนกันในเบื้องหลัง
  • ช่วยลดเวลาใช้งานเครื่องจริง และสามารถเตรียมแผนการวัดให้เสร็จก่อนที่ชิ้นงานจริงจะถูกผลิต
  • ปัจจัยที่เกี่ยวข้องกับชิ้นงานสามารถปรับแก้ได้ภายหลังผ่านโหมดทดสอบแบบทีละขั้นตอน
  • การทำงานแบบออนไลน์และออฟไลน์ใช้แนวคิดการควบคุมที่สอดคล้องกันจากระบบเดียว ทำให้มั่นใจได้ว่าผลการวัดมีความถูกต้อง ซึ่งไม่สามารถทำได้ในสถานีโปรแกรมที่ไม่ใช่ของผู้ผลิตเครื่องวัด

 

⚡ ข้อมูล PMI ช่วยให้ทำงานง่ายขึ้น

CAD รุ่นใหม่สามารถฝังข้อมูล PMI (Product and Manufacturing Information) ซึ่งรวมถึงขนาดและข้อกำหนดที่นักออกแบบกำหนดไว้ในโมเดล CAD

  • เมื่อเลือกคุณลักษณะเรขาคณิต ซอฟต์แวร์ WinWerth® จะกระจายจุดวัดหรือเส้นสแกนบนองค์ประกอบที่เกี่ยวข้องโดยอัตโนมัติ และสร้างลำดับการวัดแบบกึ่งอัตโนมัติ
  • อย่างไรก็ตาม การสร้างโมเดล CAD ที่มีข้อมูล PMI ครบถ้วนยังไม่แพร่หลายมากนัก เนื่องจากต้องใช้ความละเอียดในการออกแบบสูง

⚡ การสร้างลำดับการวัดแบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ

หากต้องการสร้างลำดับการวัดแบบอัตโนมัติทั้งหมด ต้องมีการบันทึกพารามิเตอร์ที่จำเป็นไว้ในข้อมูล PMI หรือให้ซอฟต์แวร์วัดกำหนดเองโดยอัตโนมัติ

  • เมื่อเงื่อนไขครบถ้วน WinWerth® สามารถสร้างลำดับการวัดสำหรับเครื่องมือโลหะที่มีค่าความคลาดเคลื่อนต่ำ เช่น หัวแม่พิมพ์ฉีดสำหรับเลนส์สัมผัส ได้แบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ
  • การวัดจะดำเนินการด้วยเครื่องวัดพิกัดแบบมัลติเซนเซอร์ โดยใช้เซนเซอร์วัดระยะออปติคัลร่วมกับระบบประมวลผลภาพ และแกนหมุน/เอี ยงอัตโนมัติสำหรับชิ้นงา

 

    

 

 

 


 

⚡การประมวลผลภาพด้วย Werth

การวิเคราะห์ภาพสำหรับการวัดด้วยออปติคส์และเอกซเรย์คอมพิวเตอร์

อัลกอริธึมการประมวลผลภาพที่ใช้ในการวิเคราะห์เนื้อหาภาพและกำหนดจุดวัด มีผลโดยตรงต่อคุณภาพของผลการวัดจากเซนเซอร์ประมวลผลภาพ รวมถึงการประเมินภาพตัดขวางจากการสแกนแบบ CT
ในปัจจุบัน การประเมินผลดำเนินการผ่านฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์บน PC โดยเริ่มจากการปรับปรุงภาพด้วยฟิลเตอร์ เช่น การเพิ่มความคมชัดและลดตำหนิพื้นผิว เพื่อให้สามารถวัดได้แม้ในบริเวณขอบที่ยากต่อการตรวจจับหรือในสภาพแสงตกกระทบโดยตรง

 

⚡ การประมวลผลคอนทัวร์เพื่อการวัดที่แม่นยำ

  • คอนทัวร์ที่มีขนาดใหญ่กว่ามุมมองของเลนส์สามารถจับภาพได้ครบถ้วนด้วยการติดตามคอนทัวร์อัตโนมัติร่วมกับแกน CNC ของเครื่องวัดพิกัด (Contour Scanning)
    เหมาะสำหรับการตรวจสอบคอนทัวร์ขนาดใหญ่จำนวนน้อย เช่น บนแม่พิมพ์ปั๊มโลหะ

 

 Raster Scanning HD: การสแกนภาพความละเอียดสูง

  • เซนเซอร์ประมวลผลภาพจะจับภาพชิ้นงานด้วยความถี่สูงระหว่างการเคลื่อนที่ แล้วนำภาพมารีแซมเปิลและซ้อนกันเพื่อสร้างภาพรวมที่มีความละเอียดสูงสุดถึง 20,000 เมกะพิกเซล
    ตัวอย่างเช่น การวัดรูขนาดเล็ก 100,000 จุดบนหัวต่อไฟเบอร์ขนาดใหญ่ใช้เวลาเพียง 35 นาที แทนที่จะใช้ 7 ชั่วโมง
  • ความแม่นยำเพิ่มขึ้นจากการวัดพื้นที่ขนาดใหญ่ด้วยกำลังขยายสูง และการเฉลี่ยผลจากหลายภาพ ซึ่งช่วยปรับปรุงอัตราส่วนสัญญาณต่อสัญญาณรบกวน (SNR)
  • สามารถปรับแต่งกระบวนการให้เหมาะกับงานวัดแต่ละประเภท

 

 รูปแบบการสแกนที่หลากหลาย

  • Raster Scanning HD P: จับภาพเฉพาะบริเวณที่สนใจตามเส้นทางที่กำหนดไว้ล่วงหน้า ช่วยลดเวลาและปริมาณข้อมูลเมื่อเทียบกับการสแกนแบบสี่เหลี่ยมทั่วทั้งชิ้นงาน (Raster Scanning HD N)
  • Raster Scanning HD ROTARY: ใช้กับเครื่องที่มีแกนหมุน โดยจับภาพระหว่างการหมุน และวัดจากภาพรวมของพื้นผิวด้านข้างที่ถูก “คลี่ออก” ของชิ้นงานทรงกระบอกสมมาตร

 


 

⚡ Volume Section Sensor

การวัดภาพตัดขวางจากข้อมูล CT หรือ Point Cloud

ด้วยการประมวลผลภาพคอนทัวร์แบบ 2D และฟิลเตอร์ภาพที่เกี่ยวข้อง สามารถดำเนินการวัดในภาพตัดขวางใด ๆ ของข้อมูล CT หรือ Point Cloud ได้อย่างแม่นยำ
เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดชิ้นงานที่ประกอบด้วยวัสดุหลายชนิด

  • นอกจากภาพตัดขวางแบบระนาบแล้ว ยังสามารถวัดภาพตัดขวางแบบทรงกระบอกจากข้อมูล CT ได้อย่างแม่นยำ ด้วย Volume Section Sensor หรือฟังก์ชันตรวจสอบผ่าน WinWerth® VolumeCheck
  • ฐานของทรงกระบอกไม่จำกัดเฉพาะรูปวงกลม แต่สามารถกำหนดเป็นรูปทรงใดก็ได้ตามลักษณะของชิ้นงาน
  • แสดงผลได้ทั้งภาพ 3D ของพื้นผิวตัด และภาพ 2D แบบคลี่ของพื้นผิวด้านข้างของทรงกระบอกที่ถูกตัด

 

 


 

วิธีการวัดพิเศษสำหรับการสแกนเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ (CT)

การเพิ่มความละเอียดและขยายช่วงการวัดด้วยการแบ่งกริด (Rasterisation)

ในกระบวนการ Raster Tomography จะมีการจับภาพหลายส่วนของชิ้นงานทีละส่วน และบันทึกชุดภาพที่เกี่ยวข้องไว้
การสแกนสามารถทำได้ตามแนวแกนหมุน (X-scanning), ตั้งฉากกับแกนหมุน (Y-scanning) หรือทั้งสองแนวพร้อมกัน (XY-scanning)

ระหว่างการประเมินผล ข้อมูลพิกเซลหรือ voxel ที่เกี่ยวข้องของทั้งชิ้นงานจะถูกรวมเข้าด้วยกัน
กระบวนการนี้ดำเนินการโดยไม่ต้องใช้การเย็บภาพ (stitching) แต่ใช้เพียงแกนพิกัดที่มีความแม่นยำสูง

  • ความละเอียดจะเพิ่มขึ้นโดยการจับภาพชิ้นงานขนาดเล็กด้วยกำลังขยายสูงในหลายขั้นตอนของกริด
  • ช่วงการวัดจะขยายออกโดยการจับภาพชิ้นงานขนาดใหญ่ในหลายส่ว

 


 

⚡การสแกนแบบเอกซเรย์และเชื่อมโยงข้อมูลการวัดของช่องตัดเยื้องศูนย์ด้วยความละเอียดสูงผ่าน Multi-ROI CT

Eccentric Tomography ช่วยให้สามารถจัดวางชิ้นงานในตำแหน่งใดก็ได้บนโต๊ะหมุน (สิทธิบัตร) โดยไม่จำเป็นต้องจัดแนวชิ้นงานให้ซับซ้อนและเสียเวลา เพิ่มความสะดวกในการใช้งาน

Sectional Tomography หรือ ROI Tomography (ROI: Region of Interest) ใช้สำหรับการวัดเฉพาะบางส่วนของชิ้นงานด้วยความละเอียดสูง โดยไม่ต้องสแกนทั้งชิ้นงาน เช่นในกรณีของ Raster Tomography ซึ่งใช้เวลานานและต้องการหน่วยความจำสูง

Multi-ROI Tomography เป็นการรวมข้อดีของการสแกนแบบเยื้องศูนย์และแบบเฉพาะจุด
สามารถเลือกหลายตำแหน่งในชิ้นงานเพื่อวัดด้วยความละเอียดสูงได้อย่างอิสระ

 

 


⚡ Werth ClearCT: ลดความไม่แน่นอนในการวัด

Werth ClearCT ใช้การผสานกันระหว่างแกนหมุนและแกนเคลื่อนที่เชิงเส้นแบบพิเศษ
แตกต่างจากระบบ Cone Beam CT แบบดั้งเดิม โดยสามารถสร้างข้อมูล CT ปริมาตรที่แทบไม่มีอาร์ติแฟกต์
ไม่จำเป็นต้องใช้กระบวนการแก้ไขที่ใช้เวลานาน ทำให้สามารถวัดอัตโนมัติได้อย่างแม่นยำ รวดเร็ว และลดความไม่แน่นอนในการวัด

 

 การวัดชิ้นงานหลายวัสดุด้วย Dual-Spectra Tomography

ในการวัดชิ้นงานโลหะ-พลาสติก เช่น ขั้วต่อไฟฟ้าแบบป้อนวัสดุ มักเกิดอาร์ติแฟกต์จากการแข็งของลำแสงและการกระเจิงของรังสีจากหมุดโลหะ
ซึ่งส่งผลให้การวัดบนตัวพลาสติกทำได้ยากขึ้น

Dual-Spectra Tomography ใช้ซอฟต์แวร์วัดรวมข้อมูล CT สองชุดที่ถ่ายด้วยแรงดันแคโทดหรือฟิลเตอร์ต่างกันเข้าด้วยกัน
โดยปรับสเปกตรัมรังสีให้เหมาะกับวัสดุแต่ละชนิด
การลดอาร์ติแฟกต์ในข้อมูลปริมาตรช่วยลดความไม่แน่นอนในการวัดขนาดระหว่างวัสดุที่แตกต่างกัน

เพื่อรองรับการวิเคราะห์นี้ WinWerth® MultiMaterialScan ใช้กระบวนการ Subvoxeling ของ Werth
ในการคำนวณ Point Cloud แบบ STL แยกตามวัสดุจากข้อมูล CT ปริมาตรโดยอัตโนมัติ แม้ในกรณีที่มีชิ้นส่วนโลหะหลายชนิด

 

 


 

 

⏱️ ลดเวลาในการวัดด้วยการหมุนต่อเนื่องของแกนเครื่องด้วย OnTheFly-CT

ในการสแกนเอกซเรย์แบบดั้งเดิมที่ใช้การหมุนแบบหยุด-เริ่ม (Start-Stop) การหมุนจะหยุดชั่วคราวทุกครั้งที่ถ่ายภาพรังสี เพื่อหลีกเลี่ยงการเบลอจากการเคลื่อนไหว
OnTheFly Tomography ช่วยลดเวลาที่เสียไปในการจัดตำแหน่งชิ้นงาน โดยใช้การหมุนต่อเนื่องระหว่างการสแกน

  • ช่วยลดเวลาในการวัดอย่างมากโดยยังคงคุณภาพของข้อมูลเดิม
  • หรือสามารถเพิ่มคุณภาพของข้อมูลและลดความไม่แน่นอนในการวัด โดยใช้เวลาเท่าเดิม

⚡ เพิ่มระดับอัตโนมัติในการวัดชิ้นงาน

ไม่ว่าการสร้างโปรแกรมจะทำด้วยวิธีใด เครื่องวัดสามารถดำเนินการตามลำดับการวัดได้แบบอัตโนมัติหรือกึ่งอัตโนมัติ (สำหรับเครื่องที่ควบคุมด้วยมือ)

  • ผู้ใช้งานไม่จำเป็นต้องรู้ขั้นตอนการทดสอบโดยละเอียด
  • การใช้งานจำกัดเพียงการใส่ชิ้นงาน, กำหนดตำแหน่งโดยการวัดระบบพิกัดบนชิ้นงาน (Pre-alignment) และเริ่มโปรแกรม
  • การจัดตำแหน่งล่วงหน้าสามารถทำแบบอัตโนมัติ หรือไม่ต้องทำเลยหากใช้ฟิกซ์เจอร์
  • ฟิกซ์เจอร์สามารถรองรับชิ้นงานหลายชิ้นพร้อมกัน (เช่น พาเลต) ซึ่งช่วยลดเวลาในการตั้งค่า
  • WinWerth® จะทำการวัดซ้ำโดยอัตโนมัติในแต่ละตำแหน่งบนพาเลต

⚡ การผสานเข้ากับกระบวนการผลิต

สำหรับผู้ใช้งานที่ไม่มีประสบการณ์ในการควบคุมเครื่องวัด WinWerth® มีตัวเลือกให้เลือกหมายเลขชิ้นงานเพื่อเริ่มโปรแกรมอัตโนมัติ
หรือสามารถสแกนบาร์โค้ดจากใบสั่งผลิตเพื่อเริ่มกระบวนการได้เช่นกัน

  • ระบบจัดการข้อผิดพลาดอัตโนมัติช่วยในกรณีที่ชิ้นงานใส่ไม่ถูกต้อง
  • ระบบเปลี่ยนชิ้นงานสามารถติดตั้งในตัวเครื่อง TomoScope® ได้โดยไม่ต้องเพิ่มมาตรการป้องกันรังสีเพิ่มเติม
  • เมื่อมีพาเลตที่เตรียมไว้ล่วงหน้า สามารถดำเนินการวัดได้ตลอดคืนและวันหยุดสุดสัปดาห์
  • ระบบป้อนชิ้นงานอัตโนมัติสามารถผสานเข้ากับเครื่องได้ โดยโปรแกรมวัดสามารถเตรียมล่วงหน้าจากสถานีออฟไลน์
  • ชิ้นงานจะถูกป้อนเข้าสู่พื้นที่ปลอดภัยของหุ่นยนต์ผ่านช่องล็อกอากาศ
  • ลักษณะเรขาคณิตของชิ้นงาน เช่น บล็อกวาล์ว, ตัวเรือน, และชิ้นงานหล่อ จะถูกวัดทุกครึ่งนาที
  • มีการเปรียบเทียบค่าจริงกับค่ามาตรฐานจาก Point Cloud ของชิ้นงานต้นแบบ และตรวจสอบข้อบกพร่อง เช่น ครีบ
  • ผลการวัดจะถูกประมวลผลผ่านคอมพิวเตอร์ประเมินผลแบบขนาน และรวมไว้ในรายงานเดียว รวมถึงผลจากอุปกรณ์มัลติเซนเซอร์ที่เชื่อมโยงกัน

 


 

⚡ การเข้าถึงผลการวัดในสายการผลิตด้วย WinWerth® Scout

WinWerth® Scout เป็นอินเทอร์เฟซผู้ใช้งานที่ช่วยให้เข้าถึงกระบวนการวัดทั้งหมดในองค์กรได้อย่างรวดเร็วและง่ายดาย

  • รายการคำสั่งวัดที่กำลังดำเนินการจะแสดงในรูปแบบรายการ พร้อมสถานะปัจจุบัน เช่น “เริ่มงาน”, “วัดแบบสัมผัส”, หรือ “กำลังประเมินผล” ข้างหมายเลขงาน
  • คำสั่งที่เสร็จแล้วจะถูกย้ายไปยังรายการแยกต่างหากโดยอัตโนมัติ พร้อมแสดงสถานะด้วยสี:
  • สีเขียว: อยู่ในค่าความคลาดเคลื่อน
  • สีเหลือง: ใกล้ขีดจำกัด
  • สีแดง: นอกค่าความคลาดเคลื่อน

หากมีการวัดหลายชิ้นงานพร้อมกัน จะมีการจัดกลุ่มเป็นกลุ่มชิ้นงาน
เมื่อคลิกที่งานวัดในรายการงานที่เสร็จแล้ว จะเปิดหน้าต่างใหม่แสดงรายการกลุ่มชิ้นงานหรือชิ้นงานทั้งหมด พร้อมสถานะสีของแต่ละรายการ

  • คลิกที่กลุ่มหรือชิ้นงานในมุมมองรายการ จะเปิด WinWerth® 3D Viewer
  • สำหรับกลุ่มชิ้นงาน จะแสดงภาพรวมขององค์ประกอบชิ้นงานในรูปทรงกลม โดยสีของทรงกลมแสดงสถานะของแต่ละชิ้นงาน
  • คลิกขวาที่องค์ประกอบที่สนใจ จะเปิดเมนูเลือกเพื่อดูผลการวัดของชิ้นงานนั้น

 

⚡ การวิเคราะห์ความคลาดเคลื่อนระหว่างชิ้นงาน

การเปรียบเทียบค่าจริงกับ CAD พร้อมแสดงผลด้วยสี เป็นวิธีที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบพื้นผิวอิสระ (Free-form surfaces)

  • พื้นที่ที่สนใจของชิ้นงานจะถูกสแกนหรือจับเป็น Point Cloud
  • WinWerth® จะเปรียบเทียบค่าที่วัดได้กับโมเดล CAD
  • ผลลัพธ์จะแสดงเป็นเวกเตอร์หรือสีที่แสดงความคลาดเคลื่อนจาก CAD
  • การประเมินนี้สามารถทำได้ทั้งบนเครื่องวัดหรือในสถานีประเมินผลแบบออฟไลน์

⚡ การแบ่งระดับความคลาดเคลื่อนด้วยสี

เพื่อให้เห็นภาพรวมของค่าความคลาดเคลื่อน ระบบจะแบ่งออกเป็น 4 กลุ่มหลัก:

  • ค่าบวกในขอบเขตความคลาดเคลื่อน
  • ค่าลบในขอบเขตความคลาดเคลื่อน
  • ค่าบวกนอกขอบเขตความคลาดเคลื่อน
  • ค่าลบนอกขอบเขตความคลาดเคลื่อน

ผู้ใช้งานสามารถปรับแต่งการแสดงผลด้วยสีตามความต้องการได้


 

 


⚡ การเลือกระบบพิกัดอ้างอิง (Datum System) ที่ยืดหยุ่น

ขึ้นอยู่กับลักษณะงาน ผลการวัดสามารถคำนวณหรือแสดงในระบบพิกัดอ้างอิงที่วัดไว้ล่วงหน้า (เช่น พิกัดยานยนต์ในอุตสาหกรรมรถยนต์)
หรือในระบบพิกัดที่สร้างขึ้นโดยการปรับตำแหน่งพื้นผิวบางส่วนให้เหมาะสมกับโมเดล CAD

 กลยุทธ์การปรับตำแหน่ง: BestFit และ ToleranceFit®

  • BestFit: ปรับตำแหน่งจุดวัดโดยลดระยะห่างจากจุดเป้าหมายให้มากที่สุด
    อย่างไรก็ตาม เนื่องจากไม่ได้คำนึงถึงค่าความคลาดเคลื่อนของแต่ละพื้นที่ อาจเกิดกรณีที่ค่าความคลาดเคลื่อนถูกละเมิด แม้สามารถรักษาไว้ได้ด้วยการปรับระบบพิกัด
    จึงเหมาะสำหรับการควบคุมคุณภาพในระดับจำกัด
  • ToleranceFit®: ปรับตำแหน่งโดยพยายามให้จุดวัดอยู่ห่างจากขอบเขตความคลาดเคลื่อนมากที่สุด หรือหากอยู่นอกขอบเขต ก็ให้เกินขอบเขตน้อยที่สุด
    ชิ้นงานที่ถูกระบุว่าผิดพลาดตามวิธี BestFit (พื้นที่สีแดง) แต่จริง ๆ แล้วไม่ผิดพลาด จะถูกจัดเป็นชิ้นงานที่ใช้งานได้ตามวิธี ToleranceFit®
    การตรวจสอบคอนทัวร์จะทำในลักษณะเดียวกับการใช้เกจวัด

 

 การส่งผลการวัดกลับเข้าสู่กระบวนการผลิต

เพื่อให้สามารถนำค่าความคลาดเคลื่อนที่วัดหรือคำนวณได้ไปปรับใช้ในกระบวนการผลิต
สามารถปรับแก้ข้อมูลสเปกได้โดยอัตโนมัติผ่านฟังก์ชัน WinWerth® FormCorrect

  • ระบบจะคำนวณความเบี่ยงเบนระหว่างโมเดล CAD ดั้งเดิมกับข้อมูลที่วัดจากชิ้นงานตัวอย่าง แล้วสะท้อนกลับไปยังโมเดล
  • จากนั้นซอฟต์แวร์จะสร้างโมเดล CAD ที่ปรับแก้แล้ว เพื่อชดเชยความเบี่ยงเบนเชิงระบบในการฉีดพลาสติกหรือการพิมพ์ 3D
  • แตกต่างจากการย้อนรอยแบบเดิม (Reverse Engineering) วิธีนี้ใช้งานง่ายกว่าอย่างมาก
  • ด้วยความแม่นยำสูง มักต้องการเพียงรอบการแก้ไขเดียว จึงช่วยลดต้นทุนในการพัฒนาได้อย่างมีนัยสำคัญ
  • สำหรับการแก้ไขที่ละเอียดสูงหรือพื้นผิวภายใน แนะนำให้ใช้เครื่องวัดพิกัดร่วมกับเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ (CT)
  • วิธีการคล้ายกันสามารถใช้กับซอฟต์แวร์ 2D BestFit ได้เช่นกัน

 การปรับแก้แม่พิมพ์

สามารถใช้สำหรับ:

  • การปรับแม่พิมพ์ใหม่สำหรับเครื่องมือตัด (Profile Grinding, Form Milling)
  • การแก้ไขตำแหน่งที่คลาดเคลื่อนในการตัดด้วยลวดไฟฟ้า (Wire EDM)

 

 

⚡ การตรวจจับครีบอัตโนมัติ (Automatic Burr Detection)

หนึ่งในฟีเจอร์พิเศษของ Werth คือการตรวจจับและวัดครีบหรือเศษวัสดุอัตโนมัติระหว่างลำดับการวัด
ผลลัพธ์จะแสดงเป็นแผนภาพความคลาดเคลื่อนแบบใช้สี (Colour-Coded Deviation Plot) ของครีบ พร้อมค่าความยาวครีบสูงสุด

  • ในการแสดงผล จะเน้นเฉพาะจุดที่ความยาวครีบเกินขอบเขตความคลาดเคลื่อน
  • ความยาวครีบสามารถแสดงเป็นตัวเลขตลอดแนวครีบ โดยใช้เครื่องหมายวิเคราะห์ (Analysis Markers) เช่น การตั้งธงทุกระยะ 0.5 มม. เพื่อแสดงค่าครีบสูงสุดในตำแหน่งนั้น

 

⚡ การประเมิน Point Cloud

การวิเคราะห์ Point Cloud จากเซนเซอร์ออปติคัลหรือการสแกน CT ทำได้ง่ายและแม่นยำ

  • หากไม่มีข้อมูล CAD ผู้ใช้งานสามารถเลือกจุดวัดแบบอินเทอร์แอคทีฟได้โดยตรงผ่านเมาส์ หรือใช้การแยกองค์ประกอบเรขาคณิตอัตโนมัติ
  • เริ่มจากจุดเริ่มต้น ระบบจะเพิ่มจุดวัดโดยรอบโดยอัตโนมัติจนกว่าค่าความคลาดเคลื่อนของฟีเจอร์ที่เลือก (เช่น ทรงกระบอก) จะเพิ่มขึ้นอย่างชัดเจน ซึ่งเป็นสัญญาณว่าถึงขอบเขตของฟีเจอร์แล้ว

 

⚡ การกำหนดลำดับการวัดจาก CAD

  • การสร้างลำดับการวัดจากโมเดล CAD 3D จะมีประสิทธิภาพมากกว่า
    เพียงเลือกฟีเจอร์ CAD ระบบจะเลือกจุดวัดที่จำเป็นโดยอัตโนมัติ (สิทธิบัตร)
  • จากการเลือก CAD Patch ระบบจะเลือกจุดวัดทั้งหมดที่สามารถเชื่อมโยงทางเรขาคณิตกับ Patch นั้น โดยคำนึงถึงระยะขอบที่กำหนดไว้
    ส่งผลให้สามารถจับรูปทรงของฟีเจอร์ได้ครบถ้วนด้วยจำนวนจุดสูงสุด

 

✂️ การวิเคราะห์ภาพตัดขวางจากข้อมูล CT

  • ในการใช้งานจริง มักมีการกำหนดขนาดในมุมมอง 2D และภาพตัดขวาง ซึ่งต้องนำมาพิจารณาในการวิเคราะห์ข้อมูลที่ได้จาก CT
  • สามารถกำหนดระนาบในระบบพิกัดของชิ้นงาน และตัดกับทั้งข้อมูล CAD เป้าหมายและ Point Cloud ที่วัดได้
  • WinWerth® จะดึงคอนทัวร์ที่แทนข้อมูลเป้าหมายและคอนทัวร์จริงออกมาโดยอัตโนมัติ
  • ฟังก์ชันซอฟต์แวร์เดียวกันจะถูกใช้ในการประเมินขนาด 2D จากคอนทัวร์ที่สร้างขึ้น เช่นเดียวกับการวัดคอนทัวร์จากภาพหรือหัววัดแบบสัมผัส

 


 

 

⚡ การวิเคราะห์ข้อมูลปริมาตร

การตรวจสอบโครงสร้างวัสดุและการวิเคราะห์ชิ้นงานประกอบ

WinWerth® มีเครื่องมือซอฟต์แวร์หลากหลายสำหรับการวิเคราะห์วัสดุจากข้อมูลปริมาตร (Volume Data)
การแสดงผลข้อมูลปริมาตรถูกผสานไว้ในโมดูล 3D ของซอฟต์แวร์วัด WinWerth®

  • ข้อมูลปริมาตรจะแสดงในรูปแบบค่าระดับสีเทา (Grey Value) ซึ่งแทนความหนาแน่นของวัสดุ
    โดยทั่วไป ยิ่งวัสดุมีความหนาแน่นสูง ภาพจะยิ่งสว่าง
  • สามารถเปิดใช้งานมุมมองได้พร้อมกัน 3 แบบ และเลือกแสดงหรือซ่อนได้ตามต้องการ:
  • มุมมองปริมาตรทั้งหมด: แสดง voxel ทั้งหมดพร้อมค่าระดับสีเทา
  • มุมมอง ISO Surface: แสดงเฉพาะ voxel ที่มีค่าระดับสีเทาตามที่เลือก
  • มุมมองภาพตัดขวาง 2D: แสดงตามระนาบที่เลือก

ทุกมุมมองแสดงในรูปแบบสามมิติ ทำให้สามารถวิเคราะห์ได้จากทุกด้าน
โมเดล CAD, ปริมาตร voxel และกลุ่มจุดวัด (Point Cloud) จะถูกแสดงร่วมกันในระบบพิกัดเดียวกัน

 

✂️ การตัดภาพด้วยระนาบ (Clipping Planes)

  • สามารถกำหนดระนาบตัดเพื่อซ่อนโมเดลและข้อมูลวัดที่อยู่นอกระนาบนั้น
  • สามารถลบชิ้นงานทีละระนาบเพื่อดูช่องว่างภายในได้อย่างละเอียด
  • ใช้ระนาบตัดเพื่อตรวจสอบวัสดุ รูปทรงภายใน และองค์ประกอบของชิ้นงานหลายวัสดุ
  • ระนาบตัดและขอบตัดสามารถเคลื่อนย้ายและหมุนในกราฟิก 3D ได้โดยตรงผ่านเมาส์
  • การคลิกบน voxel volume จะสร้างจุดผิว 3D สำหรับการจัดตำแหน่ง โดยไม่ต้องคำนวณ Point Cloud ล่วงหน้า

 

⚡ การปรับภาพด้วย Histogram และ Transfer Curve

  • ฟังก์ชัน Histogram ใช้ปรับความโปร่งใสของช่วงระดับสีเทาที่เลือก และแสดงค่าดังกล่าวในรูปแบบสี
  • สามารถปรับเส้นโค้งการแปลง (Transfer Curve) ในช่วงย่อยใดก็ได้ เพื่อกระจายค่าระดับสีหรือสีให้มีความเปรียบต่างสูงขึ้น
  • Transfer Curve สามารถกำหนดไว้ครั้งเดียวสำหรับชิ้นงานตัวอย่าง และบันทึกเพื่อใช้กับการวัดแบบชุดของชิ้นงานที่คล้ายกัน
  • ช่วยให้สามารถแสดงภาพ voxel volume ได้อย่างเหมาะสมที่สุดเพื่อการตรวจสอบที่รวดเร็ว

 

 

 


 



 Download The Content Data Sheet

 winwerthpi241i236.pdf

425/2 Moo 9, T.Suranaree A.Muang Nakhon Ratchasima, Nakhon Ratchasima 30000 Thanland Tel: +66 (0) 44-938-991-2 Fax: +66 (0) 044-938987
Copyright © 2011 Voravirat Measure Equipment Co.,Ltd. All Rights Reserved. Developed by website